IEC 60596-1978 半导体辐射探测器和闪烁计数试验方法术语的定义

作者:标准资料网 时间:2024-04-28 20:48:12  浏览:9851   来源:标准资料网

【英文标准名称】:Definitionsoftestmethodtermsforsemiconductorradiationdetectorsandscintillationcounting
【原文标准名称】:半导体辐射探测器和闪烁计数试验方法术语的定义
【标准号】:IEC60596-1978
【标准状态】:作废
【国别】:国际
【发布日期】:1978
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IEC)
【起草单位】:IEC/TC45
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电气工程;试验;辐射探测器;半导体;核技术;定义
【英文主题词】:definitions;testing;electricalengineering;nucleartechnology;radiationdetectors;semiconductors;definition
【摘要】:
【中国标准分类号】:F80
【国际标准分类号】:17_240;01_040_17
【页数】:21P;A4
【正文语种】:英语