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MIL-R-25988/1A

作者:标准资料网 时间:2024-05-08 09:23:53  浏览:8982   来源:标准资料网
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MIL-R-25988/1A, MILITARY SPECIFICATION SHEET: RUBBER, FLUOROSILICONE ELASTOMER, OIL- AND FUEL RESISTANT, O-RINGS, CLASS 1, GRADE 70 (10 JUL 1975)., The purpose of this specification sheet is to set up a standardized part numbering system for 0-rings procured to MIL-R-25988, Class 1, Grade 70.
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基本信息
标准名称:铁道机车车辆用蠕墨铸铁件通用技术条件
中标分类: 机械 >> 加工工艺 >> 铸造
发布部门:中国人民共和国铁道部
发布日期:1993-11-11
实施日期:1994-07-01
首发日期:
作废日期:
提出单位:铁道部戚墅堰机车车辆工艺研究所
归口单位:铁道部戚墅堰机车车辆工艺研究所
起草单位:铁道部戚墅堰机车车辆工艺研究所及戚墅堰机车车辆工厂
起草人:傅作人、谢兴年、黄正宏
出版社:中国铁道出版社
出版日期:1994-07-01
页数:7页
适用范围

本标准规定了蠕墨铸铁件的技术要求、试验方法、检验规则和标志等。
本标准适用于铁道机车车辆用砂型或导热于砂型相当的铸型铸造的普通和低合金铸件。

前言

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所属分类: 机械 加工工艺 铸造
【英文标准名称】:StandardTestMethodforMeasuringFlatness,Thickness,andThicknessVariationonSiliconWafersbyAutomatedNoncontactScanning
【原文标准名称】:用自动无触点扫描法测量硅片平整度、厚度和厚度变化的标准试验方法
【标准号】:ASTMF1530-2002
【标准状态】:作废
【国别】:
【发布日期】:2002
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(US-ASTM)
【起草单位】:F01.06
【标准类型】:(TestMethod)
【标准水平】:()
【中文主题词】:探测法;半导体;薄片;平整度;硅;厚度;试验
【英文主题词】:flatness;noncontactmeasurement;semiconductor;silicon;thickness;thicknessvariation;wafers
【摘要】:ThisstandardwastransferredtoSEMI(www.semi.org)May20031.1Thistestmethodcoversanoncontacting,nondestructiveproceduretodeterminethethicknessandflatnessofclean,dry,semiconductorwafersinsuchawaythatnophysicalrefere
【中国标准分类号】:H82
【国际标准分类号】:29_045
【页数】:12P.;A4
【正文语种】: