IEC 60749-27 Edition 2.1-2012 半导体器件.机械和气候试验方法.第27部分:静电放电(ESD)敏感度检测.机械模型(MM)

作者:标准资料网 时间:2024-05-18 17:01:33  浏览:9983   来源:标准资料网

【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part27:Electrostaticdischarge(ESD)sensitivitytesting-Machinemodel(MM)
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法.第27部分:静电放电(ESD)敏感度检测.机械模型(MM)
【标准号】:IEC60749-27Edition2.1-2012
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:2012-09
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IX-IEC)
【起草单位】:IEC/TC47
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:大气压;温度变化;分类;分类系统;气候;气候试验;元部件;定义;尺寸规格;放电;电气元件;电气工程;电学测量;电子工程;电子设备及元件;静电的;静电放电;静电学;环境;环境测试;环境试验;易燃性;热学;推动载荷量;集成电路;机械;测量设备;机械测试;模型;潮气;耐力;半导体器件;半导体;灵敏度;模拟;温度;试验;测试装置;外观检查(测试)
【英文主题词】:Atmosphericpressure;Changesoftemperature;Classification;Classificationsystems;Climate;Climatictests;Components;Definitions;Dimensions;Discharge;Electricalcomponents;Electricalengineering;Electricalmeasurement;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Electrostatic;Electrostaticdischarges;Electrostatics;Environment;Environmentaltesting;Environmentaltests;Flammability;Heat;Impulseloadability;Integratedcircuits;Machines;Measuringequipment;Mechanicaltesting;Models;Moisture;Resistance;Semiconductordevices;Semiconductors;Sensitivity;Simulation;Temperature;Testing;Testingdevices;Visualinspection(testing)
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:25P;A4
【正文语种】:英语